● 鏡頭“工作距離”達8.2mm(工作距離是指調焦清晰時鏡頭和被測物體表面的距離)。解決了EO蓋刻線位置
與蓋邊沿落差較大的問題,可滿足各種罐蓋的刻線測量
● 采用進口光學元器件,圖像清晰,確保檢測數(shù)據(jù)準確
● 可測量不同大小的罐蓋
● 使用日本進口的測微計及顯示儀表,分度值達1um
● 配軟件,可實現(xiàn)數(shù)據(jù)庫管理和打印報表,便于數(shù)據(jù)統(tǒng)計和圖像保存
檢測指標: 罐蓋刻線深度和剩余厚度 |
簡介: |
SMM-400罐蓋刻線檢測儀,采用顯微鏡測量技術,測量罐蓋刻線深度和剩余厚度。
規(guī)格: |
樣品蓋類型 | RP、SOT、EO |
測量范圍 | 0-10mm |
分度 | 1μm(0.001mm) |
重現(xiàn)性 | 2μm (0.002mm) |
尺寸 | L250×W300×H600mm |
重量 | 15kg |