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奧本精密工業(yè)AUBAT-116檢定裝置適用于采用結(jié)構(gòu)光測量原理，包括投影光柵式、手持激光線掃描式等類型的三維輪廓光學掃描測量儀的校準光學三維測量系統(tǒng)vdi/vde2634 基于區(qū)域掃描的光學系統(tǒng)、多視角系統(tǒng)奧本aubat采用標準球作為標準器具，各測量點與*小二乘擬合球球心之間徑向距離的變化范圍，擬合球常由自由半徑*小二乘法計算得到 形狀探測誤差，尺寸探測誤差 ，球心距離測量誤差 ，坐標測量誤差，端面長度測量誤差
JJF（**）116-2016 三維輪廓光學掃描測量儀校準規(guī)范 標準球 啞光 直徑≥25mm U≤1.5μm 球桿 啞光 AUBAT-Bmatt254C5 球桿 啞光 AUBAT-Bmatt381C10 球桿 啞光 AUBAT-Bmatt508C20 球板 啞光 AUBAT-Zmatt500 球板 啞光 AUBAT-Zmatt500 球架 啞光 AUBAT-Rmatt400 AUBAT-DY100 粘貼式點云 漫反射臺階規(guī)（階差規(guī)）
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