材料分析和開(kāi)發(fā)

Nexsa 能譜儀具有分析靈活性，可限度地發(fā)揮材料潛能。在使結(jié)果保持研究級(jí)質(zhì)量水平的同時(shí)，以可選多技術(shù)聯(lián)合的形式提供靈活性，從而實(shí)現(xiàn)真正意義上多技術(shù)聯(lián)合的分析檢測(cè)和高通量。

標(biāo)準(zhǔn)化功能催生強(qiáng)大性能：

· 絕緣體分析

· 高性能XPS性能

· 深度剖析

· 多技術(shù)聯(lián)合

· 雙模式離子源，使深度剖析功能得到擴(kuò)展

· 用于 ARXPS 測(cè)量的傾斜模塊

· 用于儀器控制、數(shù)據(jù)處理和報(bào)告生產(chǎn)的 Avantage 軟件

· 小束斑分析 ，可選的升級(jí)：可將多種分析技術(shù)集成到您的檢測(cè)分析中是自動(dòng)運(yùn)行

· ISS：離子散射譜，分析材料最表面1-2原子層元素信息，通過(guò)質(zhì)量分辨可分析一些同位素豐度信息。

· UPS：紫外光電子能譜用于分析金屬/半導(dǎo)體材料的價(jià)帶能級(jí)結(jié)構(gòu)信息以及材料表面功函數(shù)信息

· 拉曼：拉曼光譜技術(shù)用于提供分子結(jié)構(gòu)層面的指紋信息

· REELS：反射電子能量損失譜可用于H元素含量的檢測(cè)以及材料能級(jí)結(jié) 構(gòu)和帶隙信息

SnapMap

借助 SnapMap 的光學(xué)視圖，聚焦于樣品特征。光學(xué)視圖可以幫助您快速定位感興趣區(qū)域，同時(shí)生成聚焦的 XPS 圖像，以進(jìn)一步設(shè)置您的實(shí)驗(yàn)。

1.X 射線照射樣品上的一個(gè)小區(qū)域。

2.收集來(lái)自這一小區(qū)域的光電子并將其收集于分析儀

3.隨著樣品臺(tái)的移動(dòng)，不斷收集元素圖譜

4.在整個(gè)數(shù)據(jù)采集過(guò)程中監(jiān)測(cè)樣品臺(tái)位置，這些位置的圖譜成像用來(lái)生成 SnapMap

應(yīng)用領(lǐng)域

· 電池

· 生物醫(yī)藥

· 催化劑

· 陶瓷

· 玻璃涂層

· 石墨烯

· 金屬和氧化物

· 納米材料

· OLED

· 聚合物

· 半導(dǎo)體

· 太陽(yáng)能電池

· 薄膜

1. 分析儀類型 180° 雙聚焦半球型分析器，配備 128 通道檢測(cè)器

2. X 射線源類型 單色化、微聚焦、低功率Al Ka

3. X 射線源X射線光斑尺寸 10 - 400 µm（可按照 5 µm 的步長(zhǎng)進(jìn)行調(diào)節(jié)）

4. 樣品區(qū)域 3600 mm²

5. 厚度（公制）樣品 20 mm

6. 真空系統(tǒng) 2x260 l/s-1渦輪分子泵，配備自動(dòng)鈦升華泵以及前級(jí)泵