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接觸式芯片高低溫測試設備-熱流儀

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參考價 135088
訂貨量 1
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號 AES-6035W
  • 品牌 冠亞恒溫
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 無錫市

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更新時間:2025-08-19 15:08:03瀏覽次數(shù):253

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地 國產(chǎn) 產(chǎn)品大小 小型
產(chǎn)品新舊 全新 結構類型 密封式,立式
結構類型 密封式,立式 溫度 低溫冷水機
【無錫冠亞】是一家專注提供高低溫控溫解決方案的設備廠家,公司主要生產(chǎn)高低溫沖擊氣流儀(熱流儀)、chiller、超低溫制冷機、高低溫測試機機、高低溫沖擊箱等各種為通訊、光模塊、集成電路芯片等領域的可靠性測試提供整套溫度環(huán)境解決方案。接觸式芯片高低溫測試設備-熱流儀

詳細介紹

接觸式芯片高低溫測試設備-熱流儀

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  在半導體、電子元器件等產(chǎn)品的研發(fā)與生產(chǎn)過程中,老化測試Chamber通過構建可控的加速老化環(huán)境,模擬產(chǎn)品在長期使用中可能遇到的溫度、濕度等應力條件,能夠在短時間內(nèi)評估產(chǎn)品的性能,為縮短研發(fā)周期提供了重要支撐。

  老化測試 Chamber 的核心原理是基于環(huán)境應力加速老化理論。產(chǎn)品在實際應用中,溫度變化、濕度波動等環(huán)境因素會導致材料性能退化、結構失效等問題,這些過程遵循一定的物理化學規(guī)律,且在更苛刻的環(huán)境應力下會加速發(fā)生。Chamber 通過準確控制溫度、濕度等參數(shù),將自然環(huán)境中需要長期積累的老化效應壓縮在較短的測試周期內(nèi)實現(xiàn)。

  溫度控制是老化測試 Chamber 實現(xiàn)加速驗證的基礎功能。為模擬不同產(chǎn)品的應用場景,Chamber 需具備寬范圍的溫度調(diào)節(jié)能力,既能實現(xiàn)低溫環(huán)境以模擬寒冷工況,也能達到較高溫度以模擬設備長期運行后的發(fā)熱狀態(tài)。在溫度循環(huán)測試中,Chamber 可按照預設的曲線快速切換高低溫狀態(tài),通過溫度變化產(chǎn)生的熱應力,加速材料的老化進程。

  老化測試 Chamber 的多參數(shù)協(xié)同控制能力使其能夠模擬更復雜的實際應用環(huán)境,進一步提升加速驗證的真實性。除溫度與濕度外,部分 Chamber 還可集成振動、氣壓等參數(shù)控制,以復現(xiàn)產(chǎn)品在車載、半導體工業(yè)等特殊場景下的使用環(huán)境。車載電子元件在行駛過程中不僅面臨溫度變化,還會受到持續(xù)振動,Chamber 通過同步施加溫度循環(huán)與振動應力,可評估產(chǎn)品的綜合老化性能。

  在產(chǎn)品研發(fā)流程中,老化測試 Chamber 的應用貫穿多個階段,縮短了研發(fā)周期。在設計初期,通過 Chamber 對原型樣品進行加速老化測試,可快速識別材料選擇、結構設計等方面的問題,為設計優(yōu)化提供依據(jù),避免后期大規(guī)模生產(chǎn)時出現(xiàn)批量失效;在工藝驗證階段,Chamber 可用于評估不同生產(chǎn)工藝對產(chǎn)品老化性能的影響,幫助篩選合適的工藝參數(shù),提高產(chǎn)品的一致性;在量產(chǎn)前的質(zhì)量管控階段,通過對抽檢樣品的加速老化測試,可提前發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)過程中的異常,降低產(chǎn)品上市后的質(zhì)量風險。與傳統(tǒng)自然老化驗證相比,這種基于 Chamber 的加速測試能將研發(fā)周期縮短數(shù)倍,使產(chǎn)品更快響應市場需求。



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