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北京京科瑞達(dá)科技有限公司
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更新時間：2019-07-30 09:50:58瀏覽次數(shù)：726次
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|---|---|---|---|
| 自動化程度 | 全自動 |
二手島津X射線熒光光譜儀 EDX-700HS采用島津*的ｘ射線聚光透鏡[集束毛細(xì)管透鏡]，x射線只照射樣品的50μmφ微小領(lǐng)域，實現(xiàn)高靈敏度、高精度分析。
二手島津X射線熒光光譜儀 EDX-700HS特點：
采用島津*的ｘ射線聚光透鏡[集束毛細(xì)管透鏡]，x射線只照射樣品的50μmφ微小領(lǐng)域，實現(xiàn)高靈敏度、高精度分析。
可以在大氣中進(jìn)行從輕元素到重元素（na～u：μedx-1300；al～u：μedx-1200/1400）的分析。
配備雙ccd（高倍率，低倍率）攝像頭，可以在觀察樣品圖像的同時方便地決定分析位置，進(jìn)行分析。
標(biāo)準(zhǔn)配備無標(biāo)樣定量fp法、薄膜成分/膜厚分析用的薄膜fp法以及可以測定聚合物薄膜的背景基本參數(shù)（bg-fp）法。
作為微區(qū)ｘ射線熒光光譜分析裝置，在世界上*配備了5種1次ｘ射線濾光片自動交換機構(gòu)，可消除來自ｘ射線管的特征ｘ射線，提高信噪比。
配備多元素同時/自動掃描成圖功能。采用高速掃描成圖，在短時間內(nèi)便可獲得圖像（μedx-1200/1300）。追加透射觀察單元（選購），也可進(jìn)行透射ｘ射線的同時測定。
配備電子冷卻式高計數(shù)率檢測器。無需液氮，可進(jìn)行高精度分析。
可輕松地進(jìn)行電子材料/部件的鍍層膜厚測定、異物檢測、失效解析及成圖分析。
二手島津X射線熒光光譜儀 EDX-700HS配置參數(shù)：
主機部分：
1、X射線發(fā)生器單元
X射線管
類型 Rh靶
冷卻方法 空冷（附風(fēng)扇）
2、X射線電源單元
電壓 5-50kV，每步1Kv（測定重金屬（Cd,Pb,Hg,Br,Cr等）時，可以用50ｋV。但測定輕元素時，15kV是***有效的。另在工作曲線法中，隨時可設(shè)定***佳電壓。）
電流 1-1000μA，每步1μA
穩(wěn)定度 ±0.01%（外電壓波動±10%）
保護(hù)電路 過電壓， 過電流， 過功率，
3、一次X射線濾波片 5種自動交換
特點說明：不同元素應(yīng)該采用不同的濾光片進(jìn)行分析，這樣才能有效降低背景，得到高準(zhǔn)確度的測量數(shù)據(jù)。EDX-720進(jìn)行元素分析時可以自動判斷元素和更換相應(yīng)的濾光片，無須手動更換
檢測器部分：
1、檢測器
類型 Si（Li）檢測器
液氮 只有在分析時添加
液氮消耗 少于1L/天
檢測面積 10mm2
分析元素 Na-U
分辨率 ：小于150電子伏特
特點說明：采用液氮制冷方式的檢測器具有高分辨率，可以避免元素譜線之間的干擾，從而保證高準(zhǔn)確度的分析。在性能、實績、穩(wěn)定性上，Si（Li）半導(dǎo)體是對性的實績（島津檢測器是自己生產(chǎn)，在萬一發(fā)生故障也迅速對應(yīng)）。 掘場按振動檢測器的性能下降。 精工較差的Si-PIN半導(dǎo)體分辨率為220eV、在分析樹脂中的Cd、Pb時，容易受到Br和Sb等共存元素的干擾、并有時不能檢出，還有因為是低強度，在測試金屬中有害元素的感度也差。
2、計數(shù)單元
放大器
擬合時間 10μ秒
增益變化 高/低
多道分析器（MCA）
變頻型 順序比較ADC
道數(shù) 2048道
***大計數(shù)率 232-1/道
樣品室與測定室部分：
1、樣品室
二手島津X射線熒光光譜分析儀EDX-700HS，二手熒光光譜分析儀蓋子 自動開啟/關(guān)閉（帶安全系統(tǒng)）
每次測定時蓋子自動上升與下降。
***大樣品尺寸 300mm 直徑 x 150mm高
二手島津X射線熒光光譜分析儀EDX-700HS，二手熒光光譜分析儀（特點說明：樣品室自動開啟，樣品蓋子的結(jié)構(gòu)設(shè)計有效避免X光的泄露，滿足日本及中國X射線的泄露控制標(biāo)準(zhǔn)。超大型的樣品室可以容納大型的部件直接放入測試，無須切割）
2、測定室
X射線照射面積 下照射
光欄直徑 1、3、5、10mm可選
特點說明：不同的分析面積采用不同尺寸的光欄，可以保證各種大小樣品的高精度測試。
測定室開孔 13mm
3、測定氣氛：大氣
4、CCD觀察定位系統(tǒng)
配備CCD數(shù)碼觀察系統(tǒng)，可以準(zhǔn)確定位分析區(qū)域。
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