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EA6000VX-日本日立桌上型X射線熒光分析儀

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  • 所在地 蘇州市

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更新時間:2025-08-12 16:42:27瀏覽次數:946

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產品簡介

產地 進口 產品新舊 全新
自動化分析功能
?  超高速平面掃描
?  雷射自動定位系統(tǒng)(移動誤差小于100μm)
?  500筆連續(xù)測試
?  掃描路徑紀錄系統(tǒng)

詳細介紹

項目規(guī)格
產地日本
測定元素范圍鈉(Na11)~鈾(U92)※ 需選配氦氣充填系統(tǒng)
樣品型態(tài)固體、液體、粉末皆可
X射線源管電壓: 15 kV、30kV、40 kV、50 kV(可調式)
管電流:1mA(10~1000μA自動調整ZUI適電流輸出)
X射線照射方向上方垂直照射型
檢測器Vortex SDD(Hitachi專LI,多陰極硅半導體檢測器)
冷卻方式電子冷卻(不需液態(tài)氮)
準直器(分析區(qū)域)0.2、0.5、1.2、3mmφ(自動切換)
樣品觀察高解析、高分辨率彩色CCD鏡頭
濾波器六種模式(自動切換)
樣品ZUI大可掃描范圍250(W)×200(D)×150(H) mm
儀器尺寸750(W)×740(D)×783(H) mm
重量160Kg(不含計算機及屏幕)
掃描分析功能■ 高解析、高分辨率CCD鏡頭
■ 雷射自動對焦系統(tǒng)(誤差小于1mm)
■ 連續(xù)500點掃描分析
■ 掃描路徑紀錄系統(tǒng)
■ 微小部件掃描分析
■ 微小異物查找(分辨率20um以下)
定性分析功能■ 微量元素成份定性分析
■ 元素分析
■ 能譜比對
■ 元素自動辨別比對
定量分析功能■ 微量元素成份定量分析
■ RoHS有害物質分析
■ 無鹵規(guī)范有害物質分析
■ EN71-3有害物質分析
■ 電鍍膜厚測定
■ 元素分析FP法
■ 元素分析檢量線法
■ HS快速分析模式
標準配件■ EA 系列專用桌上型Dell計算機(含液晶屏幕、鼠標、鍵盤)
■ RoHS塑料有害物質標準品(日本國家一JI認證單位Jab認證)
■ 儀器硬件確認片一組(含強度、能量、分辨率及光徑校正)
■ 樣品杯
■ 樣品杯用測試薄膜
可加購選項■ 氦氣充填系統(tǒng)
■ 操作游戲桿
■ 信號燈
■ 特殊式樣專用載臺
■ 樣品置放治具
■ 環(huán)境限制用標準物質(無鹵、EN71-3、Sb銻、Sn錫、P磷、S硫)
■ 金屬電鍍膜厚標準品
■ 油壓機與制錠機
設置需求建議桌面尺寸:1500(W)×1000(D) mm
使用電源:AC100~240V(50~60Hz)/400VA




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