半自動沖擊試驗箱目前適用的行業(yè)及產(chǎn)品有光電、LED、顯示器、顯示屏連接器，PCB連接器，F(xiàn)PC，電感器，電子元器件，數(shù)碼產(chǎn)品，太陽能組件，光伏組件，光纖，LCD，PCB，F(xiàn)PC，微電子，電機，汽車燈產(chǎn)品及零部件等大型產(chǎn)品或者大型零部件。從很低到很高的溫度包括中間的任意溫度均可隨意設定恒溫或者沖擊試驗。
半自動沖擊試驗箱因為溫度沖擊試驗箱本來就是用于測試各種工業(yè)材料的結(jié)構(gòu)或復合材料，在瞬間下經(jīng)不同溫度的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在很短時間內(nèi)檢測試樣因高溫及低溫的溫度沖擊所引起的物理傷害或化學變化，從而判斷它的壽命及性能變化。
型號 | AP-CJ-50 | AP-CJ-80 | AP-CJ-150 | AP-CJ-250 | AP-CJ-1000 |
內(nèi)箱尺寸WxHxD（cm） | 35×35×40 | 50×40×40 | 60×50×50 | 70×60×60 | 100×100×100 |
外箱尺寸WxHxD（cm） | 以實際尺寸為標準 | ||||
高低溫范圍 | （150℃~A：-45℃；B：-55℃；C：-65℃）；：60℃~ 150℃；-10℃~-65℃；） | ||||
升溫時間（蓄熱區(qū)） | RT~200℃約需30min | ||||
降溫時間（蓄冷區(qū)） | RT~-70℃約需80min | ||||
溫度轉(zhuǎn)換時間／回復時間 | ≤10sec內(nèi)／≤5min內(nèi) | ||||
溫度控制度／分布度 | ±0.5℃／±2.0℃ | ||||
半自動沖擊試驗機本設備滿足：GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分試驗方法 試驗A 低溫；GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗B:高溫；GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件；GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件；GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件；GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則；GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備。
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