怎樣使用邏輯分析儀的探頭?可能遇到什么樣的問(wèn)題?
一般超聲設(shè)備提供的診斷軟件均能診斷到電源、信號(hào)采集轉(zhuǎn)換、圖像處理、發(fā)射接收部分等子系統(tǒng)的功能單元的故障，明確提示錯(cuò)誤信息，供維修參考。但要進(jìn)一步找到具體的故障芯片或器件還要頗費(fèi)一番周折。電路板上的故障現(xiàn)象千變?nèi)f化，各不相同，但歸納起來(lái)不外乎以下幾類(lèi)∶集成電路及阻容元件性能變差、性能不穩(wěn)定、功能失效;芯片及器件引腳的虛焊、虛接、開(kāi)路;芯片及器件的擊穿短路、引腳互碰等都會(huì)導(dǎo)致電路板不能正常運(yùn)行工作。要依故障情況進(jìn)行具體分析。
（三）對(duì) FPGA 的超大規(guī)模集成電路進(jìn)行邊界掃描及測(cè)量
隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，電子設(shè)備中越來(lái)越多的使用大規(guī)模可編程數(shù)字邏輯器件，如 FPGA 等。這種器件的使用提高了電子設(shè)備的性能，增加了可靠性，但是與此同時(shí)復(fù)雜的邏輯關(guān)系、細(xì)密的引腳也給設(shè)備的維修帶來(lái)了巨大的壓力。芯片封裝技術(shù)的發(fā)展，特別是表面貼裝技術(shù)（SMT）的發(fā)展給傳統(tǒng)針床測(cè)試帶來(lái)很多困難。維修人員無(wú)法通過(guò)探針來(lái)測(cè)量芯片引腳上的波形，而使用"針床"等測(cè)試平臺(tái)又需要付出很高的成本。邊界掃描技術(shù)的誕生為這一問(wèn)題提供了一個(gè)新的解決途徑。邊界掃描協(xié)議是聯(lián)合測(cè)試工作組（JTAG∶joint test action group）提出，并于1990 年形成了IE 1149.1 工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)通過(guò)設(shè)置在器件輸入輸出引腳與內(nèi)核電路之間的邊界掃描單元，對(duì)器件及外圍電路進(jìn)行測(cè)試，從而提高了電路板的可測(cè)性。邊界掃描就像一根"虛擬探針"，能夠在不影響電路板正常工作的同時(shí)，采集芯片引腳的狀態(tài)信息，通過(guò)分
析這些信息達(dá)到故障診斷功能。
彩超維修也遇到同樣的問(wèn)題，現(xiàn)在大多數(shù)彩超電路板都使用FPGA、CPLD 等大規(guī)?？删幊虜?shù)字邏輯器件，這些芯片的出現(xiàn)就要求我們能夠使用邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試判斷
和維修。

國(guó)械注進(jìn)20203080452