詳情介紹：
平行平晶50-75
產(chǎn)品名稱：平行平晶，上等平晶
產(chǎn)品型號：0-25mm；25-50mm；50-75mm；75-100mm(每組四塊)
簡介
具有兩個（或一個）光學(xué)測量平面的正圓柱形或長方形的量規(guī)。光學(xué)測量平面是表面粗糙度數(shù)值和平面度誤差都極小的玻璃平面，它能夠產(chǎn)生光波干涉條紋（見激光測長技術(shù)）。平晶有平面平晶和平行平晶兩種。平面平晶用于測量高光潔表面的平面度誤差，為用平面平晶檢驗量塊測量面的平面度誤差。平行平晶的兩個光學(xué)測量平面是相互平行的，用于測量兩高光潔表面的平行度誤差，例如千分尺兩測量面的平行度誤差.平晶用光學(xué)玻璃或石英玻璃制造。圓柱形平面平晶的直徑通常為 45～150毫米。其光學(xué)測量平面的平面度誤差為:1級精度的為0.03～0.05微米；2級精度的為0.1微米。常見的長方形平面平晶的有效長度一般為200毫米。
平行平晶：是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差。平行平晶據(jù)有高精度的平面性和平行性。
平行平晶：用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。
具體規(guī)格：
每組平行平晶共四塊，分四個尺寸系列組
測量面上平面度偏差： <0.1μm
平面度局部偏差： >0.03μm
測量面平行度誤差： 組Ⅰ系列允差值：0.06μm
組Ⅱ、Ⅲ系列允差值：0.08μm
組Ⅳ系列允差值：0.1μm
測量面上平面度偏差： <0.1μm
平面度局部偏差： >0.03μm
測量面平行度誤差： 組Ⅰ系列允差值：0.06μm
組Ⅱ、Ⅲ系列允差值：0.08μm
組Ⅳ系列允差值：0.1μm
| 組Ⅰ | 平行平晶 | 0-25mm | 4塊/組 |
| 組Ⅱ | 平行平晶 | 25-50mm | 4塊/組 |
| 組Ⅲ | 平行平晶 | 50-75mm | 4塊/組 |
| 組Ⅳ | 平行平晶 | 75-100mm | 4塊/組 |
平行平晶尺寸系列表
| 組號 | 0-25 | 25-50 | 50-75 | 75-100 |
| 1 | 15.00，15.12 15.25，15.39 | 40.00，40.12 40.25，40.37 | 65.00，65.12 65.25，65.37 | 90.00，90.12 90.25，90.37 |
| 2 | 15.12，15.25 15.37，15.50 | 40.12，40.25 40.37，40.50 | 65.12，65.25 65.37，65.50 | 90.12，90.25 90.37，90.50 |
| 3 | 15.25，15.37 15.50，15.62 | 40.25，40.37 40.50，40.62 | 65.25，65.37 65.50，65.62 | 90.25，90.37 90.50，90.62 |
| 4 | 15.37，15.50 15.62，15.75 | 40.37，40.50 40.62，40.75 | 65.37，65.50 65.62，65.75 | 90.37，90.50 90.62，90.75 |
| 5 | 15.50，15.62 15.75，15.87 | 40.50，40.62 40.75，40.87 | 65.50，65.62 65.75，65.87 | 90.50，90.62 90.75，90.87 |
| 6 | 15.62，15.75 15.87，16.00 | 40.62，40.75 40.87，41.00 | 65.62，65.75 65.87，66.00 | 90.62，90.75 90.87，91.00 |
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