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顆粒電位滴定及粒度分析儀通過使用stabino，可實現(xiàn)快速便捷的顆粒的電位滴定測試。分散體中，同性帶電離子的靜電排斥作用是分散體避免凝聚保持穩(wěn)定的主要原因，故帶...

噴霧顆粒分析監(jiān)測儀德國AOM系統(tǒng)公司名稱來源于“AdvanceOpticalMeasurementSystems“，即先進的光學測量系統(tǒng)，AOM公司作為噴霧監(jiān)測...

顆粒3D動態(tài)圖像分析儀原理：從頻閃光源發(fā)出的頻閃光，經(jīng)過光束擴束器，得到平行的頻閃光，在測試區(qū)域頻閃光照射在分散好的單個顆粒上，經(jīng)過擁有專業(yè)的光學成像系統(tǒng)，得到...

噴霧粒度分析儀Microtrac Inc.是世界上著名的激光應用技術研究和制造廠商，其先進的激光粒度分析儀已廣泛應用于水泥，磨料，冶金，制藥，石油，石化，陶瓷，...

Zeta電位及納米粒度分析儀納米粒度測量——動態(tài)光背散射技術隨著顆粒粒徑的減小，例如分子級別的大小，顆粒對光的散射效率急劇降低，使得經(jīng)典動態(tài)光散射技術的自相關檢...

顆粒在線干法動態(tài)圖像分析儀顆粒形貌的分析：對于球形度、圓形度、磨圓度、長徑比、球度等行業(yè)的顆粒形貌參數(shù)的分析是其他顆粒測試設備所不具備的。值得一提的是，本產(chǎn)品軟...