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Z16 APO宏觀顯微鏡 詳細(xì)摘要: Leica Z16 APO是一款可用于高對(duì)比度、高清晰度、詳細(xì)分析的全復(fù)消色差變焦系統(tǒng)。單光路提供了2D圖像,并確保無(wú)視差成像。
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Z6 APO宏觀顯微鏡 詳細(xì)摘要: Leica Z6 APO是一款進(jìn)行高對(duì)比度、高分辨率、詳細(xì)分析的全復(fù)消色差的變焦系統(tǒng),具有出色的透光率。單光路提供了2D圖像,并確保無(wú)視差成像。
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IPLEX GAir工業(yè)內(nèi)窺鏡 詳細(xì)摘要: IPLEX GAir工業(yè)內(nèi)窺鏡配備30 m(98 ft)和20 m(65 ft)插入管、氣動(dòng)導(dǎo)向、實(shí)時(shí)圖像定位以及能夠精確導(dǎo)向并采集高質(zhì)量圖像的其他功能,幫助檢...
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IPLEX NX工業(yè)內(nèi)窺鏡 詳細(xì)摘要: IPLEX NX工業(yè)內(nèi)窺鏡,的工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡系統(tǒng)地組合了多種功能,使用更具便捷性與耐久性。從高畫質(zhì)檢測(cè)到外來(lái)異物的抓取,多樣化的性能帶給用戶的體驗(yàn)。
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IPLEX GX/GT工業(yè)內(nèi)窺鏡 詳細(xì)摘要: IPLEX GX/GT工業(yè)內(nèi)窺鏡具有可更換的插入管和光源、8英寸觸摸屏和的成像功能,在通用性、成像能力和易用性之間取得平衡。
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IPLEX TX工業(yè)內(nèi)窺鏡 詳細(xì)摘要: 借助IPLEX TX視頻內(nèi)窺鏡,您可以對(duì)因開口狹窄而難以進(jìn)入部件的內(nèi)部進(jìn)行檢測(cè)。IPLEX TX的圖像清晰,具有出色的耐用性,是一款可對(duì)鑄件、模具和其他帶有小空...
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超聲掃描顯微鏡AW™系列 詳細(xì)摘要: 超聲掃描顯微鏡AW™系列,容量大,產(chǎn)能高,靈敏度高。
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超聲掃描顯微鏡D9™系列 詳細(xì)摘要: 超聲掃描顯微鏡D9™系列,C-SAM儀器現(xiàn)代化的標(biāo)準(zhǔn)。
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X光檢查機(jī)XD7500VR Jade Plus 詳細(xì)摘要: X光檢查機(jī)XD7500VR Jade Plus,提供生產(chǎn)應(yīng)用所需的安全、無(wú)碰撞檢測(cè)
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MX63/MX63L半導(dǎo)體顯微鏡 詳細(xì)摘要: MX63和MX63L顯微鏡系統(tǒng)經(jīng)過(guò)優(yōu)化,適用于尺寸300 mm的晶圓、平板顯示器、電路板以及其他大尺寸樣品的高質(zhì)量檢測(cè)。其采用的模塊化設(shè)計(jì)使您能夠選擇需要的組件...
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DM12000M工業(yè)顯微鏡 詳細(xì)摘要: 徠卡DM12000M全新的光學(xué)設(shè)計(jì),可以提供宏觀模式快速初檢,以及傾斜紫外光路功能(OUV, 傾斜紫外觀察模式) 不單提升了分辨率還提高了檢查12英寸(300毫...
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DM8000 M工業(yè)顯微鏡 詳細(xì)摘要: 徠卡DM8000 M提供了全新的光學(xué)設(shè)計(jì),如理想的宏觀檢查模式或者傾斜紫外光(OUV,隨檢UV選擇)不但提高了分辨能力,同時(shí)也增加了觀察8''/200毫米直徑大...
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DM3 XL正置顯微鏡 詳細(xì)摘要: 在微電子和半導(dǎo)體行業(yè)中,檢驗(yàn)、過(guò)程控制或缺陷和故障分析的速度至關(guān)重要。檢測(cè)缺陷的速度越快,您做出響應(yīng)的速度也就越快。DM3 XL 檢驗(yàn)系統(tǒng)憑借大視場(chǎng)幫助您的團(tuán)隊(duì)...
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尼康XS系列自動(dòng)對(duì)焦全站儀 詳細(xì)摘要: 尼康XS系列自動(dòng)對(duì)焦全站儀,采用輕便緊湊的設(shè)計(jì),易于設(shè)置,使測(cè)量工作變得快速、高效、簡(jiǎn)便。
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尼康XF系列中文全站儀 詳細(xì)摘要: 尼康Nikon XF系列中文全站儀,使測(cè)量工作更輕松、更快捷。尼康XF具有800米的免棱鏡測(cè)量、省時(shí)的自動(dòng)對(duì)焦和雙屏顯示功能。
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新款 尼康N2/NK全站儀 詳細(xì)摘要: 新款 尼康N2/NK全站儀,以創(chuàng)新的方式提供的EDM,包括靈活的充電和連接選項(xiàng),并享有尼康提供的優(yōu)質(zhì)服務(wù)和支持。
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工業(yè)顯微鏡 ECLIPSE LV150NA和LV150N (純反射型) 詳細(xì)摘要: 工業(yè)顯微鏡 ECLIPSE LV150NA和LV150N (純反射型)
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FPD/LSI檢查顯微鏡ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N 詳細(xì)摘要: FPD/LSI檢查顯微鏡ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N,這一系列半導(dǎo)體顯微鏡是檢測(cè)集成電路(IC)、平板顯示器(FPD)、大...
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工業(yè)顯微鏡ECLIPSE LV100NDA和LV100ND 詳細(xì)摘要: 工業(yè)顯微鏡ECLIPSE LV100NDA和LV100ND,同時(shí)配有反射照明和透射照明,有多種鏡檢方式可選,可搭配數(shù)碼相機(jī),并有多種附件可選,可應(yīng)對(duì)多種工業(yè)品、...
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VK-X3000系列形狀測(cè)量激光顯微系統(tǒng) 詳細(xì)摘要: 采用了三重掃描方式,運(yùn)用激光共聚焦、白光干涉、聚焦變化等三種不同的掃描原理,高倍率和低倍率,平面、凹凸表面的細(xì)微粗糙度,以及鏡面體,透明體等?;魇縑K-X30...
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