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JXA-8530F Plus 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀 詳細(xì)摘要： 日本JEOL 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀 JXA-8530F Plus ，采用浸沒式肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍,優(yōu)化了角電流密度，能利用2 A以上的大探針電流進(jìn)行分析，還...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-20 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡，由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長(zhǎng)很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有...
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Sigma 300 場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： 德國(guó)Zeiss SIGMA 300 場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡，Gemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性，的低電壓性能，In Lens 探測(cè)器，磁性材料高分辨觀察，X射線分析設(shè)...
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KSI V300E 單探頭超聲波掃描顯微鏡 詳細(xì)摘要： KSIV300E 單探頭超聲波掃描顯微鏡,X軸和Y軸驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)全是磁懸浮高速線性電機(jī), X、Y軸有效掃描區(qū)域：300mm300mm,X、Y軸的重復(fù)精度：0.1um...
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V400E 單探頭多用途超聲波掃描顯微鏡 詳細(xì)摘要： KSI V400E 單探頭多用途超聲波掃描顯微鏡，掃描速度可達(dá)：1000mm/s 或 2000mm/s，兩種規(guī)格可選,掃描范圍：400mm400mm 或 400...
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KSI v1000E 超聲波掃描顯微鏡 詳細(xì)摘要： KSI v1000E 單探頭多用途超聲波掃描顯微鏡，掃描速度：2000 mm/s, 掃描范圍：1000mm700mm.
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KSI V-Octo 八探頭大型超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng) 詳細(xì)摘要： KSI V-Octo 八探頭大型超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)，該系統(tǒng)同時(shí)使用8只換能器，能限度的確?？焖賵D像采集和高效能。掃描速度：2000 mm/s,掃描范圍：100...
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KSI V-quattro四探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng) 詳細(xì)摘要： KSI V-quattro四探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)，多工系統(tǒng)，四探頭系統(tǒng)，同時(shí)使用4只換能器,掃描速度：2000 mm/s, 掃描范圍：1000mm700mm
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Nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng) 詳細(xì)摘要： KSI－Nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)，聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的結(jié)合.換能器頻率范圍：100MHz2000MHz頻率實(shí)現(xiàn)高分辨率,放...
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KSI i-Ingot型全自動(dòng)晶錠分析檢測(cè)系統(tǒng) 詳細(xì)摘要： KSI－ 凱斯安i-Ingot型全自動(dòng)晶錠分析檢測(cè)系統(tǒng)，適用于對(duì)晶錠的無損檢測(cè)，有了它，晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測(cè)，晶錠的尺寸可達(dá)450mm，檢測(cè)時(shí)間...
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KSI i-Wafer晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng) 詳細(xì)摘要： KSI i-Wafer晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，是一款儀器，操作人員可選擇接收/拒絕標(biāo)準(zhǔn)，手動(dòng)或自動(dòng)檢測(cè)晶圓。在KSI i-Wafer的探測(cè)下，晶圓中的孔隙、分層或者雜...
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SE 800 PV 激光橢偏儀 詳細(xì)摘要： SE 800 PV 激光橢偏儀，SENTECH設(shè)計(jì)了SE 800 PV，用于表征由SiNx/SiO2、SiNx/SiNy或SiNx/Al2O3組成的多層鈍化膜和...
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SE 400adv PV 激光橢偏儀 詳細(xì)摘要： 激光橢偏儀SE 400adv PV.是化使用的標(biāo)準(zhǔn)儀器，用于測(cè)量PV單層防反射涂層的厚度和折射率指數(shù)。特別用于表征單晶和多晶硅太陽能電池上的SiNx 防反射單層...
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光伏測(cè)量?jī)x器RT Inline 詳細(xì)摘要： 德國(guó)Sentech光伏測(cè)量?jī)x器 RT Inline， RT Inline薄膜反射和透射的在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，反射率、透射率和膜厚的高速在線測(cè)量是RT Inline的設(shè)...
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光伏測(cè)量?jī)xMDPspot 詳細(xì)摘要： 德國(guó)Sentech光伏測(cè)量?jī)xMDPspot，靈活的自動(dòng)掃描系統(tǒng)，具有成本效益的臺(tái)式少子壽命測(cè)試儀MDPspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測(cè)量提供了一個(gè)測(cè)量...
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MDPmap光伏測(cè)量?jī)x 詳細(xì)摘要： 離線工具M(jìn)DPmap是專為半導(dǎo)體晶片或部分工藝過的晶片的多功能、非接觸和少子壽命測(cè)量而設(shè)計(jì)的。MDPmap能夠連續(xù)地改變激發(fā)脈沖寬度，從非常短的脈沖(100ns...
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SENperc PV 光伏測(cè)量?jī)x 詳細(xì)摘要： ENperc PV 光伏測(cè)量?jī)x，太陽能電池制造中的質(zhì)量控制解決方案SENperc PV，是PERC電池制造質(zhì)量控制的創(chuàng)新解決方案。SENperc PV 測(cè)量Al...
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SenSol 自動(dòng)掃描薄膜測(cè)量?jī)x器 詳細(xì)摘要： 自動(dòng)掃描薄膜測(cè)量?jī)x器SenSol:SenSol是SENTECH光伏產(chǎn)品組合中的自動(dòng)大面積掃描儀器。自動(dòng)表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用SenS...
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MDPpro激動(dòng)掃描儀 詳細(xì)摘要： MDPpro激光掃描系統(tǒng)，少子壽命測(cè)量?jī)x器的特征在于以1mm分辨率對(duì)500mm的一個(gè)面在不到4分鐘內(nèi)完成掃描。電阻率和少子壽命的測(cè)量*無觸摸。利用微波檢測(cè)光電導(dǎo)...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-19 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
MDPinlinescan在線壽命和電阻率逐行掃描儀 詳細(xì)摘要： MDPinlinescan在線壽命和電阻率逐行掃描儀，各種不同的樣品，從單晶硅到多晶硅，從生長(zhǎng)的晶片到加工過的晶片，都可以通過MDPlinescan使用少子壽命...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-19 參考價(jià)： 面議 在線留言