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JEBG大功率電子槍?電源 詳細(xì)摘要： 日本電子JEOL大功率電子槍?電源EBG-300UA，JEBG-1000UB，JEBG-3000UB，是用來在真空中蒸發(fā)或熔解金屬及氧化物的大功率電子束發(fā)生源，...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-16 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
TP高頻感應(yīng)等離子體發(fā)生器 詳細(xì)摘要： 日本JEOL高頻感應(yīng)等離子體發(fā)生器 TP，通過高頻感應(yīng)加熱產(chǎn)生大約1萬度的熱等離子體，經(jīng)過物理/化學(xué)反應(yīng)過程，能合成納米顆粒及厚膜(鍍膜)。
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BS/JEBG/EBG電子槍 詳細(xì)摘要： 日本JEOL BS/JEBG/EBG 系列電子槍，用于光學(xué)薄膜及電極膜等各種薄膜形成的電子束蒸鍍用電子槍/電源。
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BS/JST電子槍/電源 詳細(xì)摘要： 日本JEOL BS/JST系列電子槍/電源，日本JEOL BS/JST系列電子槍/電源
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BS-80020CPPS等離子體源 詳細(xì)摘要： 日本JEOL BS-80020CPPS等離子體源，是用于輔助低溫（100℃以下等）下塑料基板和膠片成膜的等離子體源。
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BS-80011BPG產(chǎn)生高密度等離子體的內(nèi)置型等離子源 詳細(xì)摘要： 日本JEOL BS-80011BPG產(chǎn)生高密度等離子體的內(nèi)置型等離子源，安裝在真空室內(nèi)產(chǎn)生高密度等離子體的等離子體源。利用和真空蒸鍍結(jié)合的等離子體輔助沉積技術(shù)（...
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RF-120高頻電源 詳細(xì)摘要： 日本JEOL RF-120系列高頻電源，是濺射、刻蝕、CVD、離子鍍等薄膜制備/加工使用的、用于生成等離子體的13.56MHz高頻電源（RF電源）。
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TP-99010FDR 粉末供應(yīng)裝置 詳細(xì)摘要： 日本JEOL TP-99010FDR 粉末供應(yīng)裝置，用氣體通過管道定量輸送粉末的送粉器。
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日本JEOL電子自旋共振譜儀 JES-X310，X320 詳細(xì)摘要： 日本JEOL電子自旋共振譜儀 JES-X310，X320，經(jīng)過進(jìn)一步改良低噪音耿氏振蕩器，達(dá)到了*的靈敏度。由于人們已經(jīng)認(rèn)識(shí)到樣品中極少量的未成對(duì)電子會(huì)在很大程...
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日本RIBM HS-AFM超高速視頻級(jí)原子力顯微鏡 詳細(xì)摘要： 日本RIBM HS-AFM超高速視頻級(jí)原子力顯微鏡，突破了 掃描成像速慢的限制，掃描速度可達(dá) 20 frame/s，并且有 4 種掃描臺(tái)可供選擇。樣品無需特殊固...
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JNM-ECZR 系列 核磁共振譜儀 詳細(xì)摘要： 日本JEOL JNM-ECZR 系列 核磁共振譜儀，是高度結(jié)合了數(shù)字技術(shù)和高頻技術(shù)研制的脈沖傅里葉變換核磁共振儀。電路的高度集成化提高了譜儀的可靠性、實(shí)現(xiàn)了機(jī)體...
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JNM-ECZS核磁共振譜儀 詳細(xì)摘要： JNM-ECZS 核磁共振譜儀，不僅具有高性能，還進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)了譜儀的小型化。 高級(jí)軟件和自動(dòng)化技術(shù)，使常規(guī)測試全部實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化。超高靈敏度自動(dòng)調(diào)諧探頭包括了Su...
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JSX-1000S型X射線熒光光譜儀 詳細(xì)摘要： 日本JEOL JSX-1000S型X射線熒光光譜儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（FP法?檢量線法）、RoHS元素篩選功能等...
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JIB-4700F 雙束加工觀察系統(tǒng) 詳細(xì)摘要： 日本JEOL JIB-4700F 雙束加工觀察系統(tǒng)，該設(shè)備的SEM鏡筒中采用了超級(jí)混合圓錐形物鏡、GB模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kV低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)...
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JIB-4000 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) 詳細(xì)摘要： 日本JEOL JIB-4000 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)，配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對(duì)樣品表面進(jìn)行SIM觀...
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JXA-8230 電子探針顯微分析儀 詳細(xì)摘要： 日本JEOL JXA-8230 電子探針顯微分析儀，可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
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軟X射線分析譜儀 詳細(xì)摘要： 日本JEOL 軟X射線分析譜儀，(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相...
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IB-19520CCP截面樣品拋光儀 詳細(xì)摘要： IB-19520CCP 截面樣品拋光儀，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能...
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IB-19530CP截面樣品拋光儀 詳細(xì)摘要： 日本JEOLIB-19530CP截面樣品拋光儀，采用多用途樣品臺(tái)，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕...
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EM-09100IS 離子切片儀 詳細(xì)摘要： 日本JEOLEM-09100IS 離子切片儀，用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制...
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